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Glossar
Ist zu einem englischen Begriff eine deutsche Übersetzung gebräuchlich, so ist diese in Klammern mit der Kennzeichnung "deutsch:" angegeben. Wörtliche oder sinngemäße Übersetzungen sind hingegen mit "wörtlich:" gekennzeichnet.
ACT: Bezeichnung von FPGA-Familien der Firma Actel.
Amorphes Silizium: nicht-kristallines Silizium, das aufgrund der Unterbrechungen in der Gitterstruktur eher ein Isolator als ein Halbleiter ist. Wird als Isolationsschicht bei den Antifuses ViaLink, MicroVia und MicroFuse verwendet.
Antifuse (wörtlich: Anti-Schmelzsicherung): Das Gegenteil einer Schmelzsicherung. Programmierbares Verbindungselement in einem FPGA. Im unprogrammierten Zustand ist die Antifuse hochohmig. Beim Programmieren wird eine hohe Spannung angelegt. Dadurch wird die Isolationsschicht zerstört und eine leitende Verbindung erzeugt.
APR = Auto Place & Route: --> EDA-Werkzeug zum automatischen Plazieren und Verdrahten von Komponenten, z.B. der Logikelemente in einem FPGA; Teil des --> Backend.
ASB = Analog Silicon Breadboard (wörtlich: analoges "Silizium-Steckbrett"): programmierbare, analoge Schaltung des Fraunhofer-Instituts IMS.
ASIC = Application Specific Integrated Circuit (wörtlich: anwendungsspezifische integrierte Schaltung): Anwendungsspezifisches IC, das für eine konkrete Anwendung entworfen und beim Halbleiterhersteller gefertigt wird. Wird auch als semi-custom IC bezeichnet.
ASIP = Application Specific Instruction Set Processor (deutsch: Anwendungs-Spezifische Instruktions-Menge Prozessor): Ein (Mikro-) Prozessor mit einer anwendungsspezifischen Befehls-Menge; realisiert als ASIC oder programmierbare Logik.
ATE = Automatic Test Equipment (wörtlich: automatische Testeinrichtung): Einrichtung zur Durchführung von automatischen Bauteile- oder Baugruppentests.
ATPG = Automatic Test Pattern Generation (deutsch: automatische Testmustererzeugung): Ausgehend von den Entwurfsunterlagen werden automatisch Testmuster (auch Testvektoren genannt) erzeugt, mit deren Hilfe möglichst alle (Fertigungs-) Fehler einer Schaltung entdeckt werden können, d.h. eine hohe Fehlerabdeckung erreicht wird.
Backannotation (wörtlich: Rück-Anmerkung): nachdem alle Funktionsblöcke eines Entwurfs plaziert und verdrahtet sind, können die realen Verzögerungszeiten ermittelt werden. Diese werden dann per Backannotation in die Schaltungsbeschreibung (z.B. Netzliste) eingetragen. Dazu wird zumeist das Format --> SDF benutzt.
Backend (wörtlich: hinteres Ende): Entwurfsablauf bzw. die dazu benötigten Programme, um ausgehend von der Netzliste ein Entwurf in eine bestimmte Zielarchitektur zu implementieren. Dazu zählen u.a. Mapping, Fitting, Place&Route, Bitstream-Erzeugung.
Benchmark: Ein Testfall (Programm, Aufgabenstellung, Funktion), mit dem die Leistungsfähigkeit eines Systems oder einer Komponente vergleichend ermittelt werden kann. Bei FPGAs sollen Benchmarks dazu dienen, die Kapazität (d.h. Größe der realisierbaren Anwenderschaltung) und die Leistung (z.B. Systemtakt) eines FPGA zu beurteilen.
usw. usw. ...
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